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E5070B Agilent E5070B網(wǎng)絡分析儀

Agilent E5070B網(wǎng)絡分析儀提供了Z快、Z較精確的射頻器件測量能力。其xian進的體系結構通過減少掃描次數(shù)來完成多端口測量，進一步提高了測試吞吐率。?
300 kHz 至 3GHz?
在測試端口處保持125 dB動態(tài)范圍（典型值）?
掃描速度：9.6微秒/點?
跡線噪聲：0.001 dB rms?
集成的2、3和4端口，帶有平衡測量能力?
夾具嵌入/反嵌和端口特性阻抗轉換?
用于變頻設備的頻率偏置模式?
內(nèi)置Visual Basic ? for Applications（VBA）?
測量向?qū)е周浖?/span>

主要技術指標
在測試端口處保持125 dB動態(tài)范圍（典型值）
掃描速度：9.6微秒/點
跡線噪聲：0.001 dB rms
集成的2、3和4端口，帶有平衡測量能力
夾具嵌入/反嵌和端口特性阻抗轉換
用于變頻設備的頻率偏置模式
內(nèi)置Visual Basic ? for Applications（VBA）
測量向?qū)е周浖?br style="box-sizing: border-box; padding: 0px; margin: 0px;">要技術指標
在測試端口處保持125 dB動態(tài)范圍（典型值）
掃描速度：9.6微秒/點
跡線噪聲：0.001 dB rms
集成的2、3和4端口，帶有平衡測量能力
夾具嵌入/反嵌和端口特性阻抗轉換
用于變頻設備的頻率偏置模式
內(nèi)置Visual Basic? for Applications（VBA）
測量向?qū)е周浖?br style="box-sizing: border-box; padding: 0px; margin: 0px;">要技術指標
在測試端口處保持125 dB動態(tài)范圍（典型值）
掃描速度：9.6微秒/點
跡線噪聲：0.001 dB rms
集成的2、3和4端口，帶有平衡測量能力
夾具嵌入/反嵌和端口特性阻抗轉換
用于變頻設備的頻率偏置模式
內(nèi)置Visual Basic ? for Applications（VBA）
測量向?qū)е周浖?/span>